OLED 器件硅光電式高低溫壽命測量
OLED 器件硅光電式高低溫壽命測量
系統概述本系統有多組獨立的測量通道。每組測量通道有獨立的電壓輸出、電流輸出、電壓測量、電流測量、相對亮度測量。每組測量通道可以獨立設置測量參數，包括三段測量時長、測量時間間隔、停止測量判定條件等。每組通道均可以獨立開始測量和停止測量。數據報···
系統概述夾具底部帶有加熱板，利用高溫加速OLED器件的老化，進行指定高溫條件下的器件壽命測試。加熱工位參數溫度范圍： 室溫 - 100 ℃ （室溫 -120℃可選）溫度精度： ±1℃，溫度波動±0.2℃軟件功能（1） 測量模式：恒壓、恒流、···
系統概述根據用戶不同溫濕度環境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環境進行控制。其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據客戶的需求訂制。系統特點避免高溫對硅光電測試影響的設計方案硅光電二極管工作溫度范圍-2···
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