OLED 器件光譜儀掃描式IVL、壽命測量
OLED 器件光譜儀掃描式IVL、壽命測量
多片OLED器件IVL自動測量系統在僅需大批量IVL測試而無需視角測試的情況下,工位可以靈活配置。如下述機型:①多工位常溫IVL測試 ②多工位常溫IVL測試+1個工位視角測試③多工位常溫IVL測試+1個工位高低溫控IVL測試等多種組合配置。
多片帶視角OLED器件IVL自動測量系統主要應用于OLED材料和OLED屏體生產工廠,滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。系統特點1.大批量器件的測試系統配有多通道電路選擇器,可支持多達24片共96個發光點的OL···
簡易單工位OLED器件IVL及視角測量系統對于OLED科研類機構用戶,僅考慮測試功能和精度,不考慮測試效率的情況下,可選擇單工位的IVL及視角測試系統。與多工位機臺相比,僅保留一個帶視角的工位和治具,機臺尺寸更緊湊。同時可取消選配工業視覺對···
可置于手套箱內的緊湊型OLED器件IVL及視角測試系統三軸直線移動+一軸夾具旋轉IVL測試機臺的尺寸設計緊湊,可置于手套箱內進行器件的IVL和視角測試。測量功能:IVL及余玄朗伯圖測試系統(內置手套箱內,用于未封裝器件測試)。
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